描述：方塊電阻測試儀
專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

廠商性質
其他
更新時間
2024-09-14
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方塊電阻測試儀 型號： ST-21
方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

◆ 特點：

1 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗；
2 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；
3 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6 探頭帶抗靜電模塊

◆ 技術指標：

測量范圍按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；
恒流源測量過程誤差：≤±0.8%
模數(shù)轉換器量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；性，量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；
測量不確定度在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規(guī)格間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ
電源 9V疊層電池1節(jié)

產品名稱：智能數(shù)顯測斜儀
產品型號：WS-RH98-C 自動記錄

智能數(shù)顯測斜儀型號：WS-RH98-C

產品說明

用途特點:
　　土石壩、巖土邊坡、建筑基坑、堤防、地下建筑工程，港務工程，打樁等引起的土體內部水平位移的測量，穩(wěn)定性好，重復性高等特點。

技術指標:
　　·測量范圍：　　　0~±30°
　　·傳感器分辨率：　0.0004°
　　·導輪間距基準：　500mm
　　·測頭尺寸：　　　Ф30×660mm
　　·測管重量：　　　2.5kg
　　·讀數(shù)計內部電源：12V、7Ah、電瓶
　　·充電電源：　　　220V、50Hz
　　·數(shù)字顯示：　　　4.5位液晶顯示或4.5為數(shù)碼發(fā)光管顯示

    使用環(huán)境:
    （a）溫度0℃~60℃（液晶顯示）-20℃~60℃（數(shù)碼發(fā)光管顯示）
    （b）抗?jié)B: 1Mpa
    （c）抗震: 20000g(敏感軸方向、其中g為1個單位的重力加速度）

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專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。